高溫高壓導波雷達物位計的測量原理

更新時(shí)間：2016-06-24

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高溫高壓導波雷達物位計的測量原理：
高溫高壓導波雷達物位計是基于時(shí)間行程原理的測量?jì)x表，發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過(guò)天線(xiàn)系統發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時(shí)間可以通過(guò)電子部件轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導，當脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。一種特殊的時(shí)間延伸方法可以確保極短時(shí)間內穩定和的測量。即使工況情況比較復雜，存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。
1、輸入：
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線(xiàn)路部分，微處理器對此信號進(jìn)行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比：D=C×T/2 其中C為光速因空罐的距離E已知，則物位L為：L=E-D；
2、輸出：
通過(guò)輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿(mǎn)罐高度F（=滿(mǎn)量程）及一些應用參數來(lái)設定，應用參數將自動(dòng) 使儀表適應測量環(huán)境。對應于4…20mA輸出；
3、測量范圍：
F-測量范圍；E-空罐距離；B-頂部盲區；H-探頭到罐壁的zui小距離頂部盲區是指物料zui高料面與測量參考點(diǎn)之間的zui小距離。底部盲區是指纜繩zui底部附近無(wú)法測量的一段距離。頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離；
4、注意：只有物料處于頂部盲區和底部盲區之間時(shí)，才能保證罐內物位的可靠測量。
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